HM-MAP系列吸波贴片

HM-MAP系列吸波贴片采用易面型稀土铁系化合物为吸收介质，利用新型吸收原理——电磁共振以及涡流损耗，制备的吸波材料，磁共振频率10 GHz，满足阻抗匹配，具有“薄、轻、宽、强”的特性，具备全波段、宽频带电磁波吸收、屏蔽性能。

HM-MAP系列吸波贴片产品特性

HM-MAP系列吸波贴片采用易面型稀土铁系化合物为吸收介质，利用新型吸收原理——电磁共振以及涡流损耗，制备的吸波材料，磁共振频率10GHz，满足阻抗匹配，具有“薄、轻、宽、强”的特性，具备全波段、宽频带电磁波吸收、屏蔽性能。

HM-MAP系列吸波贴片应用领域

广泛应用于航天、航空、兵器、船舶、雷达、导航、通信EMI&EMC领域，其产品在抑制电磁波干扰、改善天线方向、提高雷达测向测距准确性，通信系统杂波抑制、抗电磁干扰，RCS缩减，微波、射频器件、高频设备中使用，有效抑制微波模块内的反射以及腔体谐振。

HM-MAP系列吸波贴片技术参数

HM-MAP系列吸波贴片物理性能

 HM-MAP系列吸波贴片使用方法

       防止机箱内不必要的辐射

将HM-MAP系列吸波贴片直接贴在机壳内壁，防止空腔共振，抑制机壳造成的反射噪声；

防止电子元件产生的辐射

将HM-MAP系列吸波贴片贴在LSI或者IC表面，抑制LSI或者IC的噪声辐射，防止天线辐射效应；

将HM-MAP系列吸波贴片置于两基板之间，抑制基板间的串扰。

防止电线产生的辐射

将HM-MAP系列吸波贴片贴在柔性电路板上，滤除耦合杂波；

将HM-MAP系列吸波贴片缠绕电线表面，防止电线产生的辐射。

防止开口边缘产生的辐射

将HM-MAP系列吸波贴片贴在开口边缘，防止金属表面的高频电流产生辐射效应。

HM-MAP系列吸波贴片外观检测

外观检测条件

视力要求

裸视或矫正视力1.0以上；

 目视距离

肉眼与被测物距离30～45cm范围内；

 目视角度

待测产品垂直旋转角度﹢／﹣75°（从上到下），水平旋转角度﹢／﹣75°（从左到右）；

 目视时间

扫描整个检测面，5～10秒钟为宜；

照明要求

在自然光或者60～100W的日光灯照明条件下检验，距离光源50～55cm处，照度900～1200Lux。

外观检测项目：

外观检测判定

       严重缺陷（MAJ）：指影响产品正常使用功能，降低产品可靠性或严重影响产品外观的缺陷；

轻微瑕疵（MIN）：偏离限定标准，但不影响产品正常使用功能或外观不太明显的瑕疵。

备注：可以根据客户需求，采取逆向工程即逆向技术，根据MAXWELL方程，采用遗传算法（GA），实现吸波材料仿真（CAD），发挥吸收介质特性设计，缩短吸波材料研制周期，满足客户对于HM-MAP系列吸波贴片的特定需求。

HM-MAP系列吸波贴片的性能优于美国ARC企业Standard Silicone MAGRAM、DD、FS、FD、ND、UD、TP系列产品，美国Du Pont企业、Laird企业、Emerson&Cuming企业BSR、FGM、GDS、MCS、Q-Zorb、CoolZorb系列产品，可以有效替代进口。